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SN74LVTH182512DGGR
SN74LVTH182512DGGR
Texas Instruments
제조사부품번호：
SN74LVTH182512DGGR
부품부별：
논리—특수 논리
재고：
82945
내역：
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
사양서：
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RFQ：
RFQ
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사양서
제조업체
Texas Instruments
제조업체 제품 번호
SN74LVTH182512DGGR
재고 수량
82945
포장
테이프 및 릴(TR),컷 테이프(CT),Digi-Reel®
계열
74LVTH
논리 유형
ABT 스캔 테스트 장치, 유니버셜 버스 트랜시버 포함
공급 전압
2.7V ~ 3.6V
비트 수
18
작동 온도
-40°C ~ 85°C
실장 유형
표면 실장
패키지/케이스
64-TFSOP(0.240
공급 장치 패키지
6.10mm 폭)
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